Jesienią i zimą w Centrum Kultury ZAMEK będzie nostalgicznie. Wystawa czarno-białych fotografii ukaże najdalsze zakątki Poznania, ich charakter, przypomni też nieznane losy peryferyjnych dzielnic sprzed dekad. Ulokowane na obrzeżach, stanowią małe enklawy, gdzie życie toczy się w innym rytmie. Jednocześnie to właśnie przedmieścia witają wjeżdżających do centrum. Wystawa „Obok i w. O peryferiach Poznania w fotografii” to podróż historyczna, ale i sentymentalna do miejsc, które trwają w pamięci i na utrwalonym obrazie.
Tajemniczy nieco tytuł wystawy nawiązuje do wyjątkowego poczucia miejskości, którego doznają mieszkańcy i mieszkanki peryferyjnych obszarów. Klucz do zrozumienia fenomenu „obok i w” zdradza kurator wystawy, Maciej Szymaniak: W przeszłości często zastanawiałem się nad charakterem mojej dzielnicy. Mimo że mieszkam w Poznaniu, Dębieć pozostaje osobnym bytem, „małym miastem w dużym mieście”.(…) Z czasem zobaczyłem, że w ten sposób można widzieć wiele miejsc zlokalizowanych na uboczach Poznania. Dziś postrzegam przedmieścia mojego miasta jako położone w nim, a jednocześnie obok niego. Mam na myśli zarówno aspekt geograficzny i administracyjny, ale także, a może przede wszystkim, doświadczenia mieszkańców oraz ich (uświadomione lub nie) poczucie odrębności i poznańskości jednocześnie. Wynika ono z uwarunkowań historycznych, społecznych, urbanistycznych i architektonicznych.
Fotografie
Na wystawie znajdują się fotografie powstałe w okresie od przełomu XIX i XX wieku do połowy lat 90. XX wieku. Ich autorami nierzadko są uznani poznańscy twórcy, m. in. Jerzy Unierzyski, Roman Ulatowski czy Brunon Cynalewski, a także wielu innych fotografów, którzy dokumentowali codzienność, ale i wyjątkowe wydarzenia mające wpływ na losy mieszkańców i mieszkanek poznańskich peryferii. Zebrane fotografie przedstawiają ludzi i ich życie na co dzień, typowe dla przedmieść architekturę i urbanistykę oraz przemiany i przebudowy zachodzące na tych obszarach. Nie brakuje na nich także elementów silnie wpisanych w przestrzeń przyrody.
